詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：光學(xué)設(shè)計(jì)減少圖形襯底對激光的干涉。
產(chǎn)品型號：薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測儀所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-19 在線留言
鉑悅儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：光學(xué)設(shè)計(jì)減少圖形襯底對激光的干涉。
產(chǎn)品型號：薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測儀所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-19 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：連續(xù)式四探針片電阻及光學(xué)膜厚測量設(shè)備設(shè)計(jì), 片電阻不受針尖距離影響多種型號以供選擇
產(chǎn)品型號：所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-19 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：全自動紫外線芯片應(yīng)力測量儀一臺全自動紫外線——可見光RAMan儀器，主要用與測量芯片應(yīng)力。
產(chǎn)品型號：FSM360所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-19 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：紅外干涉測量技術(shù), 非接觸式測量
產(chǎn)品型號：FSM 413所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-19 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：FSM128系列設(shè)備，裝備有光學(xué)掃描系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：FSM 128所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-19 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品描述：FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評估薄膜的熱力學(xué)性能和穩(wěn)定性特性
產(chǎn)品型號：FSM 500TC所在地：上海市更新時(shí)間：2026-02-19 在線留言
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